半導體高低溫潮濕試驗箱
簡要描述:半導體高低溫潮濕試驗箱 根據(jù)試驗方法與行業(yè)標準可分為交變試驗、恒溫試驗,兩種試驗方法都是在雙85試驗箱的基礎(chǔ)上進行升級拓展,雙85試驗箱提供高溫、低溫、高溫、低溫的環(huán)境,主要用與光伏行業(yè),及太陽能行業(yè)的 測試設(shè)備,用于測試光伏組件,主要是單晶硅組件,地面用晶體硅光伏組件,地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進行試驗可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞。
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-10-12
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半導體高低溫潮濕試驗箱
1.1、試驗箱外殼由SUS304B制造;
1.2、試驗箱試驗空間為不銹鋼,采用不漏氣焊接工藝制造。試驗箱試驗空間備有樣品架支撐擱架,適合插入樣品架,且高度可調(diào)節(jié)。
1.3、試驗箱試驗空間與試驗箱門之間為雙層硅樹脂橡膠襯墊,可有效增強試驗箱在正常工作時的氣密性。
1.4、采用緊密的礦物棉隔離試驗箱外殼與試驗箱試驗空間,達到*的熱量損失。
1.5、所有高低溫試驗箱和高低溫濕熱試驗箱均配備一個位于左側(cè)直徑為50mm的引線孔。
1.6、試驗箱試驗空間內(nèi)配備一個或二個(依照試驗空間容積)軸流風扇,軸流風扇循環(huán)試驗箱試驗空間空氣,提供*的溫度一致性和穩(wěn)定性。
內(nèi)箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等
半導體高低溫潮濕試驗箱符合標準:
GB2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》GB2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》GB2424.1-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法》GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》GB2423.3 - 2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
操作和控制器系統(tǒng)
2.1、操作者可通過彩色液晶觸摸屏對試驗箱的控制器TEMI880發(fā)出指令,實現(xiàn)對試驗箱的控制無需多加說明的圖形符號給操作者提供了一個直觀的操作界面,使操作變的簡單易行。
2.2、TEMI880是自行監(jiān)測 ,特別為試驗系統(tǒng)應(yīng)用而設(shè)計。
2.3、程序存儲器可以存儲100個試驗程序,總試驗程序可達1000行,99次試驗程序循環(huán)。
2.4、可通過RS232-C串行接口與電腦相連。
廣東德瑞檢測設(shè)備限公司是一家專業(yè)致力于試驗儀器設(shè)備研發(fā)、銷售為一體的企業(yè),公司位于交通便利、工業(yè)繁華的東莞市。自成立以來認真精細地完善每一步檢驗程序,嚴格要求產(chǎn)品的每一步工藝流程,追求品質(zhì)。依托企業(yè)自身的人才、技術(shù)、資金為科研、電子、汽車、石油、化工、醫(yī)療、通訊、各大院校等企事業(yè)單位,提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標準的各類試驗設(shè)備及檢測儀器,并可根據(jù)用戶的需求設(shè)計制造各類非標專業(yè)性設(shè)備。
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